Texas Instruments SN74ABT8245 系列 特別功能邏輯

結果: 3
選擇 圖像 零件編號
 製造商
說明 規格書 供貨情況 定價 (HKD) 基於數量按單價篩選表中結果。
數量 RoHS ECAD模型 產品
系列
最低工作溫度
最高工作溫度
封裝/外殼
封裝
Texas Instruments 特別功能邏輯 Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR
規格書
13庫存量
最少： 1
倍數： 1

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments 特別功能邏輯 Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
規格書
產品評論
75庫存量
最少： 1
倍數： 1

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments 特別功能邏輯 Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW
規格書
無庫存前置作業時間 6 週
最少： 2,000
倍數： 2,000
捲: 2,000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel