2047 特別功能邏輯

結果: 2
選擇 圖像 零件編號
 製造商
說明 規格書 供貨情況 定價 (HKD) 基於數量按單價篩選表中結果。
數量 RoHS ECAD模型 系列
最低工作溫度
最高工作溫度
封裝/外殼
封裝
Texas Instruments 特別功能邏輯 Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device A 595-8V182512IDGGREP
規格書
產品評論
無庫存前置作業時間 18 週
最少： 2,000
倍數： 2,000
捲: 2,000

SN74LVTH182512 - 40 C + 85 C TSSOP-64 Reel
Texas Instruments 特別功能邏輯 Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device
規格書
產品評論
無庫存前置作業時間 18 週
最少： 2,000
倍數： 2,000
捲: 2,000

SN74LVTH182512 - 40 C + 85 C TSSOP-64 Reel